La costante di reticolo è un parametro fondamentale che descrive la spaziatura tra le celle unitarie di una struttura cristallina. Insieme alla lunghezza dei bordi delle celle e agli angoli piani, rappresenta un elemento chiave per comprendere le proprietà dei materiali cristallini. Questo parametro è ampiamente utilizzato nella previsione della struttura cristallina e delle sue caratteristiche.
Per misurare con precisione la costante di reticolo di strutture cristalline di elevate dimensioni e purezza, si utilizzano tecniche di diffrazione dei raggi X. Il reticolo di Bravais, che si basa sulle teorie di Auguste Bravais, rappresenta la struttura di base per la costruzione dei cristalli e consiste in un insieme infinito di punti disposti in maniera geometricamente identica nello spazio.
Esistono sette sistemi cristallini differenti, ciascuno con specifiche relazioni tra gli angoli dei lati della cella unitaria e la distanza tra i punti al suo interno. La cella unitaria è il più piccolo gruppo di atomi, ioni o molecole che, ripetuto in tre dimensioni a intervalli regolari, forma il reticolo cristallino. La costante di reticolo rappresenta la distanza tra due punti agli angoli della cella unitaria, indicata con le lettere a, b e c.
Quando un cristallo è esposto a raggi X con lunghezza d’onda simile alla spaziatura dei piani del reticolo cristallino su scala atomica e a determinati angoli d’incidenza, si generano intensi raggi X riflessi a causa dell’interferenza costruttiva delle lunghezze d’onda. Questo fenomeno, noto come Legge di Bragg, fu formulato da William Lawrence Bragg e William Henry Bragg nel 1913.
La struttura cristallina di un materiale è descritta dalla sua cella unitaria, che consiste in punti reticolari che indicano la posizione degli atomi o degli ioni. La struttura cristallina complessiva si ottiene mediante la ripetizione della cella unitaria nelle tre dimensioni.
I parametri geometrici della cella unitaria sono definiti come costanti reticolari o parametri reticolari, che rappresentano un insieme di valori numerici. Anche se teoricamente il numero massimo di parametri del reticolo è di 6 (3 angoli e 3 direzioni spaziali), in molte situazioni tale numero si riduce a causa delle simmetrie presenti. Ad esempio, per una cella cubica con angoli di 90°, i tre parametri reticolari spaziali saranno uguali, riducendo quindi il numero a una sola costante reticolare a0, dove R è la variabile in base al raggio atomico delle specie all’interno del cristallo.