Fluorescenza X e l’Effetto Auger: Processi Fondamentali
La fluorescenza X (XRF) è il fenomeno che si verifica quando un materiale eccitato da raggi X o raggi gamma ad alta energia emette raggi X “secondari”. Questo processo è influenzato dalla cattura elettronica e dalla conversione interna, fenomeni strettamente associati al decadimento radioattivo.
Entrambi i processi, cattura elettronica e conversione interna, provocano la formazione di una lacuna o vacanza in uno dei gusci elettronici interni degli atomi coinvolti.
Quando un elettrone di un guscio esterno riempie questa vacanza nel guscio K, si verifica l’emissione di un fotone con un’energia specifica, determinata dalla differenza tra le energie di legame degli elettroni coinvolti.
La fluorescenza X produce principalmente raggi X e può causare una cascata di fotoni mentre gli elettroni riempiono le vacanze nei gusci elettronici, in un processo conosciuto come effetto Auger.
Il fisico francese Pierre Victor Auger scopri questo effetto, in cui gli elettroni emessi in seguito all’emissione di raggi X vengono chiamati elettroni Auger.
Questa emissione può avvenire attraverso la fluorescenza X, con l’emissione di fotoni X con energie caratteristiche, o con l’emissione degli elettroni Auger, ciascuno con energie cinetiche specifiche.
La resa di fluorescenza Y e la resa di fluorescenza specifica sono misure introdotte per valutarne l’entità relativa in seguito alla cattura elettronica o alla conversione interna. Questi parametri forniscono informazioni cruciali sul comportamento del materiale.
La resa di fluorescenza cresce in modo approssimativamente proporzionale al numero atomico per valori di Z da 10 a 60 e tende a livellarsi per valori di Z superiori. Questi dati sono fondamentali per comprendere il comportamento dei materiali sottoposti a emissione di raggi X e per valutarne l’entità e l’impatto nei processi di analisi e rilevamento.